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產(chǎn)品中心 Products

Leading相機(jī)系列

高幀頻短波紅外相機(jī) 寬波段短波紅外相機(jī) 高分辨率短波紅外相機(jī) 大靶面短波紅外相機(jī) Leading線陣相機(jī) 深度制冷短波紅外相機(jī) Leading640短波紅外相機(jī) Leading320短波紅外相機(jī) 1550nm激光光斑跟蹤相機(jī)
Raptor科學(xué)級相機(jī)

高幀頻1000FPS-EMCCD 深度制冷CCD-風(fēng)冷結(jié)構(gòu) 超高幀頻制冷CCD 深度制冷短波紅外SWIR相機(jī) 科學(xué)級深度制冷X-Ray相機(jī) SWIR短波紅外相機(jī) 高分辨率深度制冷CCD相機(jī) 高靈敏度EMCCD相機(jī) 高分辨率EMCCD相機(jī) 高幀頻電子倍增CCD相機(jī) 寬波段深度制冷EMCCD相機(jī)
銦鎵砷短波探測器

線陣短波InGaAs探測器 320×256InGaAs探測器 640×512InGaAs探測器
光電對抗測試產(chǎn)品系列

紅外發(fā)射率測量產(chǎn)品紅外輻射測量產(chǎn)品
IDQ單光子探測器/計數(shù)器

ID230單光子探測器/計數(shù)器 ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測器 ID Qube NIR Gated紅外單光子探測器 ID220單光子探測器/計數(shù)器超導(dǎo)納米線單光子探測器 ID120單光子探測器/計數(shù)器 ID100單光子探測器/計數(shù)器 ID101OEM可見光光子計數(shù)器 ID900時間控制器 ID300短脈沖激光源
高光譜相機(jī)

國產(chǎn)高光譜相機(jī) LWIR長波高光譜相機(jī) MWIR中波高光譜相機(jī) SWIR短波紅外高光譜相機(jī) NIR近紅外高光譜相機(jī) 可見光-近紅外高光譜相機(jī)
SI深度制冷CCD相機(jī)

SI-1600S大靶面COMS相機(jī) SI-1100S大靶面CCD相機(jī) SI-1000S深度制冷CCD相機(jī) SI-850S深度制冷CCD相機(jī) SI-800S深度制冷CCD相機(jī)
科學(xué)級相機(jī)

進(jìn)口短波紅外相機(jī) 夜視ICMOS相機(jī) 工業(yè)sCMOS相機(jī) 紫外相機(jī) 高分辨率天文學(xué)CCD相機(jī)
激光測距系列

激光測距模組激光測距探測器（APD）激光器
THz系列

TK絕對THz功率/能量計 THz功率計 THz時域光譜儀 THz相機(jī) THz源 THz超快探測器
紅外熱像儀

長波非制冷紅外熱像儀長波制冷紅外熱像儀中波制冷紅外熱像儀
目標(biāo)模擬器

多功能動態(tài)目標(biāo)模擬系統(tǒng) 紅外圖像目標(biāo)模擬器激光模擬器便攜式紅外目標(biāo)模擬器紅外點源、干擾目標(biāo)模擬器可見光目標(biāo)模擬器
專用光電測試系統(tǒng)

多譜段激光分布測試系統(tǒng) 大口徑平行光管全自動定焦系統(tǒng) 紅外靈敏度測試系統(tǒng) 紅外導(dǎo)引、控制測試系統(tǒng) 告警能力探測概率測試系統(tǒng) 激光光電探測系統(tǒng)檢測裝置野外便攜式多光軸平行性校正儀大口徑平行光管測試儀電視紅外圖像跟蹤性能檢測系統(tǒng) 紅外光學(xué)及成像測試系統(tǒng) 便攜式整機(jī)光學(xué)性能測試系統(tǒng) 激光膜層損傷閾值測試系統(tǒng) 多光譜多光軸測試系統(tǒng)
通用測試設(shè)備

光學(xué)傳遞函數(shù)測試儀相機(jī)/熱像儀/激光測試系統(tǒng) 微區(qū)拉曼/PL光譜分析儀激光波長計/激光功率計
點元光電探測器

光導(dǎo)碲鎘汞HgCdTe PC（1um-26um）光伏碲鎘汞HgCdTe PV（0.5um-11um）銻化銦InSb（1um-5.5um）硫化鉛PbS（1.0um-3.5um）砷化銦InAs（1.0um-3.8um）銦鎵砷InGaAs（0.5um-2.6um）鍺Ge（0.5um-1.8um）硅Si（300nm-1100nm）碳化硅SiC（190nm-450nm）
光纖滑環(huán)

光電組合滑環(huán) 多通道光纖滑環(huán) 雙通道光纖滑環(huán) 微型光纖滑環(huán) 單通道光纖滑環(huán)
光學(xué)鏡頭及光學(xué)元件

高精度光學(xué)元件快速反射鏡振鏡系列聚焦可調(diào)鏡頭